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1、绝缘子污秽度测试项目
架空线路绝缘配置是设计、运维单位关注的重要问题,绝缘配置或者说绝缘子片数、串长的选择主要由绝缘子串的污闪电压控制。对于设计人员,设计时需要知道线路走廊污秽度情况,而后才能决定线路采用何钟绝缘子、采用多少片或者多少爬电距离。对于运维部门,要定期关注设备周边污秽度的变化,并及时确定当前绝缘配置是否足够,也即爬距校核。
绝缘子污秽度测试通常包括等值盐密、等值灰密测试,部分情况下需要进一步开展污秽离子成分测试。
2、等值盐密、等值灰密测试
2.1 等值盐密、灰密的概念
等值盐密(ESDD,“Equivalent Salt Deposit Density”)是指是以绝缘子表面每平方厘米的面积上附着的污秽中导电物质的含量所相当的NaCl的量(mg/cm2),等值盐密表征了绝缘子表面污秽充分溶解后的导电能力。等值盐密增大将使绝缘子污闪电压显著下降。
等值灰密(NSDD,“Non-Soluble Deposit Density”)指绝缘子表面每平方厘米面积附着的不容物质量(mg/cm2)。灰密对绝缘子污闪电压有一定影响,随着灰密增大绝缘子污闪电压趋于下降,但比盐密的影响弱许多。
2.2 等值盐密、灰密对污闪电压的影响
绝缘子污闪电压随着ESDD、NSDD增大分别呈负幂指数下降,其中盐密其主要影响,污闪电压与ESDD、NSDD关系如下式所示。
(1)
其中a、b分别为ESDD、NSDD对污闪电压的影响指数。
2.3 等值盐密、等值灰密测试方法
ESDD、NSDD测试根据操作不同可分为3类:
a.从线上拆下绝缘子或模拟积污串,在现场进行清洗、测量;
b.从线上拆下绝缘子或模拟积污串,运回实验室进行清洗、测量;
c.采用取样巾直接在塔上对绝缘子进行擦拭取样,将取样巾带回实验室进行浸泡、测试。
其中a、b两种方法是最常用的测试方法,方法c对操作者要求较高,容易遗留污秽导致测试解雇偏低,但对于现场无法拆卸的支柱绝缘子、较难清洗的复合绝缘子、线路绝缘子的带电作业污秽取样有显著优势。